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描述:Thick800A鍍錫測(cè)厚儀是銷(xiāo)量很好的鍍層測(cè)厚儀;儀器采用上照式結(jié)構(gòu),測(cè)試,軟件界面簡(jiǎn)潔,測(cè)試樣品用時(shí)40S,主要用于檢測(cè)金屬電鍍層厚度(如鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍鈀……);在企業(yè)品質(zhì)檢測(cè)、來(lái)料管控方面,得到廣泛的應(yīng)用。
廠(chǎng)商性質(zhì)
經(jīng)銷(xiāo)商更新時(shí)間
2024-04-27訪(fǎng)問(wèn)量
776品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝 |
鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法:
1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T6462-20052、X-ray法(X射線(xiàn)法)。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T16921-20053、庫(kù)侖法,此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為:GB/T4955-2005
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線(xiàn)光譜方法 2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
部分產(chǎn)品
X熒光電鍍層測(cè)厚儀,銀層測(cè)厚儀,鍍層膜厚測(cè)試儀,銅上鍍鎳金測(cè)厚儀,X熒光金屬膜厚測(cè)厚儀,x熒光金屬測(cè)厚儀,國(guó)產(chǎn)電鍍層測(cè)厚儀,電鍍層測(cè)厚儀,x射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀,鍍鎳無(wú)損電鍍測(cè)厚儀,鎳層測(cè)厚儀,鍍金層X(jué)射線(xiàn)無(wú)損測(cè)厚儀,金屬鍍層ROHS檢測(cè)儀,x熒光鍍層測(cè)厚儀價(jià)格,鍍銀層無(wú)損測(cè)厚儀,x熒光鍍層測(cè)厚儀,金屬鍍層測(cè)厚儀,金層測(cè)厚儀,無(wú)損金屬鍍層測(cè)厚儀,鍍金膜厚儀,PCB表面鍍層測(cè)厚儀,金屬鍍層分析儀,鍍銀厚度測(cè)試儀,膜厚測(cè)試儀x-ray ,金屬鍍層膜厚儀,X射線(xiàn)熒光多鍍層厚度測(cè)量?jī)x,銅鍍銀X射線(xiàn)無(wú)損測(cè)厚儀,鍍層分析儀.x光鍍層測(cè)厚儀,X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀價(jià)格,鍍層測(cè)厚儀,錫層測(cè)厚儀,X熒光金屬膜厚測(cè)厚儀,XRF鍍層測(cè)厚儀,鍍層分析儀,PCB線(xiàn)路板鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)品分類(lèi)
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