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型號:XTU

XRF涂層測厚儀

描述:XRF涂層測厚儀,是x射線激發(fā)樣品產生的熒光,通過分析熒光的強度來計算出金屬電鍍鉻層厚度的測試設備。電鍍銀層測厚儀通過計算機自動操作,自動檢測算出電鍍鍍銀層厚度,操作方便。

  • 廠商性質

    經銷商
  • 更新時間

    2024-04-27
  • 訪問量

    757
詳細介紹
品牌其他品牌價格區(qū)間面議
產地類別國產應用領域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產業(yè),電子,印刷包裝

XRF涂層測厚儀 

     

鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

XRF涂層測厚儀,性能優(yōu)勢

精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
*圖像識別 
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣 
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結果

XRF鍍層測厚儀,技術指標

分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) 
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩(wěn)定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低至135eV
采用*微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃~30℃

銅鍍鎳測試圖譜:


銅鍍鎳測試結果:

樣 品 名

成分Ni(%)

鍍層Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

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吊扣4#

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吊扣5#

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18.971

吊扣6#

100

19.031

吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

標準偏差

0

0.273409

相對標準偏差

0

1.425257



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