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型號:

FPC鍍層XD-1000測厚儀

描述:FPC鍍層XD-1000測厚儀是一款無損電鍍層厚度檢測儀器,主要測試鍍鋅,鍍鎳,鍍金,鍍銀,鍍銠,鍍鈀,鍍銅等金屬層厚度,產(chǎn)品采用自動化操作,測試更簡單,精度更準(zhǔn)確。

  • 廠商性質(zhì)

    經(jīng)銷商
  • 更新時間

    2024-04-28
  • 訪問量

    792
詳細(xì)介紹
品牌其他品牌價格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝

pc產(chǎn)品主要應(yīng)用于各種數(shù)碼通訊產(chǎn)品、便攜式電子產(chǎn)品、電腦周邊設(shè)備、測量儀器、汽車電子等領(lǐng)域,如手機、數(shù)碼相機、筆記本電腦、MID、MP345、掌上游戲機、音響系統(tǒng)等。FPC(Flexible Printed Circuit board翻譯成中文就是:柔性印刷電路板,通俗講就是用軟性材料(可以折疊、彎曲的材料)做成的PCB)連接器用于LCD顯示屏到驅(qū)動電路(PCB)的連接,目前以0.5mm pitch產(chǎn)品為主。

 

標(biāo)準(zhǔn)配置

 

開放式樣品腔。

精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護(hù)傳感器

計算機及噴墨打印機

 

FPC鍍層thick800a測厚儀性能特點

 

定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊

鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護(hù)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可定位測試點,重復(fù)定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光,可自動定位測試高度

 

 

FPC鍍層thick800a測厚儀技術(shù)指標(biāo)

1. 元素分析范圍:氯(Cl)- 鈾(U)

2. 涂鍍層分析范圍:氯(Cl)/鋰(Li)- 鈾(U)

3. 厚度檢出限:0.005μm

4. 成分檢出限:1ppm

5. 最小測量直徑0.05mm(最小測量面積0.002mm2)

6. 對焦距離:0-90mm

7. 樣品腔尺寸:530mm*570mm*150mm

8. 儀器尺寸:760mm*550mm*635mm

9. 儀器重量:100KG




根據(jù)電路層數(shù)分類:分為單面板、雙面板和多層板。常見的多層板一般為4層板或6層板,復(fù)雜的多層板可達(dá)幾十層。PCB( Printed Circuit Board),中文名稱為印制電路板,又稱印刷線路板,是重要的電子部件,是電子元器件的支撐體,是電子元器件電氣連接的載體。由于它是采用電子印刷術(shù)制作的,故被稱為“印刷"電路板。


鍍層測厚儀介紹


PCB鍍層測厚儀指用X射線方法測量電鍍層厚度的儀器,也用于鍍層成分分析。

X射線電鍍測厚儀儀器優(yōu)點:

1、快速檢測,檢測一個點的厚度僅需要幾秒到幾十秒

2、無損,無需要破壞樣品,直接經(jīng)過X射線照射,就可得出鍍層厚度數(shù)據(jù)

3、便捷,對樣品沒有特殊要求,基本無需對樣品進(jìn)行處理


PCB鍍層XD-1000測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域


1、PCB板行業(yè),鍍金鍍鎳鍍銅、鍍錫鍍銅等鍍層厚度測量;

2、裝飾性鍍層鍍鉻、鍍銅、鍍鎳等鍍層厚度測量;

3、緊固件螺絲及螺母防腐鍍層測量,如鐵鍍鋅、鐵鍍鎳鍍鋅等鍍層厚度測量;

4、電子行業(yè)接插件和觸點的測量;

5、電子元器件,二極管、圓晶鍍層測量,如銅鍍錫、鍍銀,圓晶鍍銀、鍍硅的厚度測量;

6、專業(yè)電鍍和表面處理企業(yè)的電鍍鍍層測量


毛細(xì)管聚焦X熒光鍍層測厚儀儀器簡介:

此系列產(chǎn)品可測量金屬準(zhǔn)直無法測量的微區(qū),多導(dǎo)毛細(xì)聚焦管光學(xué)元件的光束尺寸可小5μm,因此可以測量微電子設(shè)備、高級電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區(qū)域。

可以測量納米級的鍍層,毛細(xì)聚焦管能將更多的X射線輸出聚焦到樣品上,可以敏感的反應(yīng)鍍層納米級厚度變化。其焦斑小區(qū)域上的X射線強度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個數(shù)量級。

可以實現(xiàn)更高的測試精度,毛細(xì)管聚焦X射線從而特征X射線強度更高,探測器接受到高的計數(shù)率,信噪比更好,可以得到更好的測試精度和置信區(qū)間。

更好的測試穩(wěn)定性,探測器計數(shù)率高,測試結(jié)果波動更小,樣品鍍層、含量的測量更為精準(zhǔn)。




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