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波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀的X光管
發(fā)布時(shí)間:2024-04-08

X光管是波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)最核心的部件之一,影響光管性能的主要參數(shù)有功率、電壓、電流、鈹窗膜厚度、陽極靶材、陰極燈絲等,其性能很大程度影響了儀器的最終性能。在高壓下,電子從燈絲表面逸出,并在電場(chǎng)作用下打到陽極靶材上,激發(fā)出初級(jí)X射線。在這個(gè)過程中,電子動(dòng)能...

  • 發(fā)布時(shí)間:2023-07-01

    XRF與ICP-OES的區(qū)別在實(shí)際生產(chǎn)、研發(fā)的過程中常常需要對(duì)未知物成分進(jìn)行分析,通過成分分析技術(shù)可以快速確定目標(biāo)樣品中的各種組成成分,幫助實(shí)驗(yàn)人員對(duì)樣品進(jìn)行定性定量分析和鑒別。目前,常見的成分分析設(shè)備:XRF和ICP,本文將為大家講述這兩者的區(qū)別。X射線熒光光譜儀(XRF)XRF指的是X射線熒光光譜儀,一種可以同時(shí)對(duì)多元素進(jìn)行快速測(cè)定的儀器?;驹恚撼跫?jí)X射線與樣品表面原子核外電子相互作用,發(fā)生能級(jí)躍遷后發(fā)射出特征X射線。特征X射線是一種電磁波,同時(shí)具備能量和波長(zhǎng)兩種特性...

  • 發(fā)布時(shí)間:2023-06-30

    RoHS檢測(cè)儀就是歐盟RoHS測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)儀器。簡(jiǎn)單的說就是測(cè)試鉛Pb,鎘Cd,汞Hg,六價(jià)鉻Cr6+,多溴二苯醚PBDE,多溴聯(lián)苯PBB六種有害物質(zhì)的儀器。應(yīng)用領(lǐng)域有:1、可用于大體積構(gòu)件的ROHS及有害元素測(cè)試2、電子元件與部件的材料現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)3、各種玩具、文具兒童用品和禮品的現(xiàn)場(chǎng)抽檢。4、包裝材料進(jìn)行測(cè)試與驗(yàn)證。5、各類電池進(jìn)行有害物質(zhì)測(cè)試與驗(yàn)證。6、電鍍液中有害元素的測(cè)試7、布料、鞋材等材料中有害元素的檢測(cè)。8、首飾、飾品中的有害元素測(cè)試。維護(hù)保養(yǎng)措施:1.設(shè)備公道的...

  • 發(fā)布時(shí)間:2023-06-29

    電感耦合等離子體發(fā)射光譜法測(cè)定固廢質(zhì)控樣中的11種元素含量1前言固體廢物如果不經(jīng)正確處置后排入環(huán)境中,其中一些有毒成份如金屬元素就會(huì)污染河流、湖泊或海洋或者進(jìn)入土壤,使得這些水體和土壤受到污染。由于固廢中的金屬元素具有不能被生物降解的特性,一旦金屬元素進(jìn)入水體和土壤,往往難以清除,并且會(huì)通過食物鏈在生物體內(nèi)富集,最后進(jìn)入人體,嚴(yán)重危害人民的身體健康。因此,要推進(jìn)固體廢物安全處理處置,實(shí)現(xiàn)固體廢物的科學(xué)管理和無害化處置,科學(xué)準(zhǔn)確地監(jiān)測(cè)固體廢物中的金屬元素,對(duì)于保護(hù)環(huán)境具有重要的...

  • 發(fā)布時(shí)間:2023-06-28

    歐盟RoHS2.0最新標(biāo)準(zhǔn)是什么一、定義:RoHS是由歐盟立法制定的一項(xiàng)強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn),它的全稱是《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》(RestrictionofHazardousSubstances)。該標(biāo)準(zhǔn)已于2006年7月1日開始正式實(shí)施,主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標(biāo)準(zhǔn),使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護(hù)。該標(biāo)準(zhǔn)的目的在于消除電器電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、PBB和PBDE共6項(xiàng)物質(zhì),并重點(diǎn)規(guī)定了鉛的含量不能超過0.1%二、指令歐盟議會(huì)及歐盟委員會(huì)...

  • 發(fā)布時(shí)間:2023-06-14

    膜厚分析儀是一種用于測(cè)量薄膜厚度的儀器,它在材料科學(xué)、光學(xué)、電子學(xué)、化學(xué)等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。一、原理膜厚分析儀的原理基于不同物理過程的相互作用,通常包括以下幾種:1.X射線熒光法:X射線通過樣品表面的薄膜產(chǎn)生熒光,并通過測(cè)量熒光的能量和強(qiáng)度來計(jì)算膜厚。2.原子力顯微鏡(AFM):利用探針掃描樣品表面,測(cè)量掃描高度差并計(jì)算膜厚。3.電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES):利用等離子體將樣品中的元素激發(fā),測(cè)量元素的輻射光譜并計(jì)算膜厚。4.橢偏反射法:利用橢圓極化光的反射特性...

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